Revue : [REVUE161]
Titre : Elvesier Science, Reliability Engineering & System Safety, Vol. 68, No. 3, June 2000.
Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.Editor : G.E. Apostolakis
Site : http://www.elsevier.nl/locate/contentsdirect
Stockage : bibliothèque LMP
Date : june 2000
ISSN : 0951-8320
Pages : 187 - 278
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 56 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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