T. FRANKE, M. HONSBERG-RIEDL, P. SIMON, J. OTTO, S. RAMMINGER, G. SOELKNER, E. WOLFGANG, "On-Chip Reliability Investigations on Power Modules Actually Working in Inverter Systems", Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1361

T. FRANKE, M. HONSBERG-RIEDL, P. SIMON, J. OTTO, S. RAMMINGER, G. SOELKNER, E. WOLFGANG, "On-Chip Reliability Investigations on Power Modules Actually Working in Inverter Systems", Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1361 Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : T. FRANKE, M. HONSBERG-RIEDL, P. SIMON, J. OTTO, S. RAMMINGER, G. SOELKNER, E. WOLFGANG, On-Chip Reliability Investigations on Power Modules Actually Working in Inverter Systems, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1361-1366.

Cité dans :[REVUE253] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, Pages 851-1366, 8 June 1998.
Cité dans : [DATA233] ESREF'98, Proceedings of the 9th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 5-9 October 1998.

Auteur : T. Franke, M. Honsberg-Riedl, P. Simon, J. Otto, S. Ramminger, G. Soelkner and E. Wolfgang

Lien : private/FRANKE.pdf - 6 pages, 441 ko.
Pages : 1361-1366
Volume : 38
Issues : 6-8
Date : 8 June 1998

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