S. Dilhaire, S. Jorez, S. Grauby, L.D. Patino Lopez, J-M. Rampnoux, W. Claeys, "Thermal Stress Analysis of Thermoelectric Devices Studied by Speckle Interferometry", pp. 163-167, THERMINIC'2001

S. Dilhaire, S. Jorez, S. Grauby, L.D. Patino Lopez, J-M. Rampnoux, W. Claeys, "Thermal Stress Analysis of Thermoelectric Devices Studied by Speckle Interferometry", pp. 163-167, THERMINIC'2001 Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : S. Dilhaire, S. Jorez, S. Grauby, L.D. Patino Lopez, J-M. Rampnoux, W. Claeys, Thermal Stress Analysis of Thermoelectric Devices Studied by Speckle Interferometry, pp. 163-167, THERMINIC'2001

Cité dans : [DIV250]  THERMINIC'2001, Foreword thermal investigations of ICs and systems, Paris, France, 24-27 septembre 2001.

Auteur : S. Dilhaire, S. Jorez, S. Grauby, L.D. Patino Lopez, J-M. Rampnoux, W. Claeys
Adresse : CPMOH/U. Bordeaux 1, France
Pages : 163-167
Références : 10

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