J. Parry, J. Rantala, C. Lasance, "Enhanced Electronic System Reliability - Challenges for temperature Prediction", pp. 29-35, THERMINIC'2001.

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Titre : J. Parry, J. Rantala, C. Lasance, Enhanced Electronic System Reliability - Challenges for temperature Prediction, pp. 29-35, THERMINIC'2001.

Cité dans : [DIV250]  THERMINIC'2001, Foreword thermal investigations of ICs and systems, Paris, France, 24-27 septembre 2001.

Auteur : J. Parry (1)
Auteur : J. Rantala (2)
Auteur : C. Lasance (3)

Adresse : (1) Flomerics, Hampton Court, United Kingdom - (2) Nokia, Helsinki, Finland - (3) Philips, Eindhoven, The Netherlands
Pages : 29-35
Info ; norme IEEE 1413 ???

Références : 10
[2] : M. Pecht, 1996, "Why the traditional reliability prediction models do not work - is there an alternative?"; Electronics Cooling, Vol. 2, NO. 1, pp. 10-12.

[5] : Pecth
[6] : http://standarts.ieee.org/catalog/reliability.html

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