Article : [PAP118]

Titre : D. ROGGO, IGBT Testing, Vol. 2, pp. 78-92

Revue : ?
Date : ?
Volume : Chapitre 2.4
Pages : de 2.78 à 2.92

Stockage : Thierry LEQUEU
Info. :
Mots_clef :
Résumé : As IGBTs are taking a larger place in the power semiconductors business, new test methods for their characterization and their production are necessary.
A recently developed modular test system is aimed to realize static and dynamic measurements of power transistors. As a guideline for the designer or the purchaser
of such an equipment we discuss here its most important requirements. Specific test for IGBTs are listed in a schematic way with a definition for all parameters.
Finally the chosen solution for the control of the complete test system is presented on the basis of an example of a static test.

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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