Livre : [LIVRE290]
Titre : P. LALL, M. PECHT, E. HAKIM, Influence of temperature on microelectronics and system reliability, CRC Press, Boca Raton, FL (1997).
Cité dans : [DIV334] Recherche sur les mots clés power cycling of power device, mai 2002. Cité dans :[ART227]Auteur : Pradeep Lall
Lien : ART227.HTM#Bibliographie - référence [15].
Editeur : CRC Press, Boca Raton, FL.
Date : 1997
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 52 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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