Article : [ART336]
Titre : Sudha Gopalan, Benno Krabbenborg, Jan - Hein Egbers, Bart van Velzen, Rene Zingg, Reliability of power transistors against application driven temperature swings, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1623 - 1628
Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002. Cité dans : [DIV312] ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.Auteur : Sudha Gopalan, Benno Krabbenborg, Jan - Hein Egbers, Bart van Velzen and Rene Zingg
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-24
Pages : 1623 - 1628
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (2481 K)
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