Article : [ART333]
Titre : A. Castellazzi, R. Kraus, N. Seliger, D. Schmitt - Landsiedel, Reliability analysis of power MOSFET's with the help of compact models and circuit simulation, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1605 - 1610
Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002. Cité dans : [DIV312] ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.Auteur : A. Castellazzi, R. Kraus, N. Seliger and D. Schmitt - Landsiedel
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-21
Pages : 1605 - 1610
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (820 K)
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.
| Copyright 2023 : | |
Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.