Article : [ART328]
Titre : V. Lista, P. Garbossa, T. Tomasi, M. Borgarino, F. Fantini, L. Gherardi, A. Righetti, M. Villa, Degradation Based Long - Term Reliability Assessment for Electronic Components in Submarine Applications, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1389 - 1392
Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002. Cité dans : [DIV312] ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.Auteur : V. Lista, P. Garbossa, T. Tomasi, M. Borgarino, F. Fantini, L. Gherardi, A. Righetti and M. Villa
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-16
Pages : 1389 - 1392
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (585 K)
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