S. FOREZ, S. DILHAIRE, L.D. PATINO LOPEZ, W. CLAEYS, "Imagerie de déformation par shearographie -Application à l'électronique de puissance", REE N°06, "Revue de l'Electricité et de l'Electronique", juin 2002, pp. 37-40.

S. FOREZ, S. DILHAIRE, L.D. PATINO LOPEZ, W. CLAEYS, "Imagerie de déformation par shearographie -Application à l'électronique de puissance", REE N°06, "Revue de l'Electricité et de l'Electronique", juin 2002, pp. 37-40. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [ART273]

Titre : S. FOREZ, S. DILHAIRE, L.D. PATINO LOPEZ, W. CLAEYS, Imagerie de déformation par shearographie -Application à l'électronique de puissance, REE N°06, Revue de l'Electricité et de l'Electronique, juin 2002, pp. 37-40.

Cité dans :[REVUE347] REE N°06, Revue de l'Electricité et de l'Electronique, juin 2002.
Cité dans : [DIV105]  Les revues RGE Revue de Générale de l'Electricité et REE Revue de l'Electricité et de l'Electronique, France.
Cité dans : [DATA147] IXL, Laboratoire IXL, Université de Bordeaux, Talence, France, http://www.ixl.u-bordeaux.fr

Auteur : S. Forez
Auteur : S. Dilhaire
Auteur : L.D. Patino Lopez
Auteur : W. Claeys - CPMOH

Stockage : Thierry LEQUEU
Date : juin 2002
Pages : 37 - 40

Résumé :
Une technique optique d'imagerie, adaptée à l'environnement industriel, a été mise au point, permettant de localiser les zones de contraintes maximales sur des composants électroniques.
Nous présentons une méthode optique destinée à l'étude du comportement thermomécanique de composants électroniques de puissance. Non destructive, cette méthode est basée sur l'interférométrie de speckle : la shearographie.
Cette méthode, très robuste vis-à-vis des perturbations extérieures (vibrations, courant d'air...), est de ce fait bien adaptée à un environnement industriel et permet de déterminer le vecteur déformation en chaque point de l'échantillon.

Mots_clés : Imagerie, Shearographie, Test de fiabilité, Instrumentation optique.

Bibliographie

Références : 6
[1] : K. Nassim, L. Joannes, A. Cornet, S. Dilhaire, E. Schaub, W. Claeys, Thermomechanical deformation imaging of power devices by electronic speckle pattern interferometry. Microelectronics Reliability, Vol; 36, pp. 1341-1344 (1998).
[2] : S. Dilhaire, S. Jorez, A.Cornet, E. Schaub, W. Claeys, Optical method for the measurement of the thermomechanical behaviour of running electronic devices. Microelectronics reliability, Vol. 39, pp. 981-985 (1999).
[31 : A. Jones, C. Wykes, Holographic and Speckle Interferometry (Cambridge University Press, 2nd édition, 1989).
[4] : T. Kreis, Holographic Interferometry : Principles and Methods (Akademie Verlag, Berlin, 1996).
[5] : S.W. James, A.P. Tatam, 3D shearography for surface strain analysis. SPIE, Vol. 3783 (1999).
[6] : Y.Y. Hung, C.Y. Liang, Image-shearing camera for direct measurement of surface strains. Applied Optics, Vol. 18. No.7 (1979).

  [1] :  [PAP403]  K. NASSIM, L. JOANNES, A. CORNET, S. DILHAIRE, E. SCHAUB, W. CLAEYS, Thermomechanical deformation imaging of power devices by Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI), Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1341-13
  [2] :  [PAP406]  S. DILHAIRE, S. JOREZ, A. CORNET, E. SCHAUB, W. CLAEYS, Optical method for the measurement of the thermomechanical behaviour of electronic devices, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 981-985.
  [3] :  [PAP158]  -------
  [4] :  [PAP158]  -------
  [5] :  [PAP158]  -------
  [6] :  [PAP158]  -------

Sébastien Jorez est diplômé de l'université de Bordeaux et obtient son doctorat d'Instrumentation et Mesures en 2001 dans cette même université.
Il est actuellement Attaché Temporaire d'Enseignement et de Recherche et son travail de recherche consiste à développer des techniques d'imageries pour caractériser le comportement thermique et thermomécanique de composants électroniques.

Stefan Dilhaire est diplômé de l'université de Bordeaux et obtient son doctorat d'électronique en 1994. En 1995, il devient Maître de Conférences à l'université de Bordeaux et son travail de recherche consiste à développer des sondes optiques pour l'analyse du comportement thermique de composants électroniques.

Luis David Patino Lopez est diplômé de l'Institut Technologique de Celaya et obtient le titre d'ingénieur en électronique en 1999. Il est, depuis, en thèse à l'université de Bordeaux et travaille sur le développement d'instrumentation pour la caractérisation de composants thermoélectriques.

Wilfrid Claeys a obtenu son doctorat de physique en 1974 à l'université de Louvain où il devient Assistant Professeur. En 1988, il devient Maître de Conférence à l'université de Bordeaux puis professeur en 1990.
Depuis, il y dirige un groupe de recherche dont la thématique consiste à développer des sondes optiques pour caractériser des composants micro électroniques.
En 2000, il devient Secrétaire Général du département recherche de la région Aquitaine.

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.