Revue : [REVUE336]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 37, Issue 6, Pages 875-976 (June 1997.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 37, Issue 6,
Pages : 875-976 (June 1997)

[1] : Variations in performance degradation of CMOS NAND gates due to ionizing
radiation, Pages 875-878
M. Meniconi, D. M. Barry and D. C. Betts
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[2] : Bayesian techniques to reduce the sample size in automotive electronics
attribute testing, Pages 879-883
Andre Kleyner, Shrikar Bhagath, Mauro Gasparini, Jeffrey Robinson and Mark
Bender
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[3] : Reliability analysis of hypercube multicomputers, Pages 885-891
C. R. Tripathy, R. N. Mahapatra and R. B. Misra
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[4] : A precision noise measurement and analysis method used to estimate
reliability of semiconductor devices, Pages 893-899
Dai Yisong
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[5] : Improving software reliability forecasting, Pages 901-907
Bernard BurtschyGrigore AlbeanuDragos N. BorosFlorin PopentiuVictor Nicola
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (277 K)

[6] : Three replacement models with two kinds of damage, Pages 909-913
Takashi Satow and Toshio Nakagawa
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (185 K)

[7] : An introduction to the studies of reliability of systems using the Weibull
proportional hazards model, Pages 915-918
Ireneusz J. Jówiak
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (276 K)

[8] : The NBEFR and NWEFR classes of life distributions, Pages 919-922
Honfeng Zhang and Wen Yi Wang
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (156 K)

[9] : Estimation of reliability of stress-strength model with non-identical
component strengths, Pages 923-927
Ranjan Kumar Paul and Md. Borhan Uddin
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (281 K)

[10] : An (m, M) machine repair problem with spares and state dependent rates: a
diffusion process approach, Pages 929-933
Madhu Jain
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[11] : Bayesian analysis of reliability and hazard rate function of a mixture
model, Pages 935-941
S. A. Siddiqui and Sanjay JainR. K. Chauhan
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[12] : Further remarks on sequential estimation of a scale parameter in
exponential distributions with an unknown location, Pages 943-948
Ajit Chaturvedi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (233 K)

[13] : Steady state behaviour and maintenance planning of a desulphurization
system in a urea fertilizer plant, Pages 949-953
Sunand Kumar, N. P. Mehta and Dinesh Kumar
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[14] : Reliability analysis of star type local area networks, Pages 955-960
D. Pandey, S. K. Tyagi and Shephali Tyagi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (220 K)

[15] : Microprocessor based recognition of dot-matrix characters using a
fibre-optic scanner, Pages 961-968
Chitaranjan Tripathy
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (463 K)

[16] : Confidence limits for steady state availability of systems with lognormal
operating time and inverse gaussian repair time, Pages 969-971
P. Chandrasekhar and R. Natarajan
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (105 K)

[17] : Laboratory manual for microelectronic circuits, Page 973
Kenneth C. Smith and Adel Sedra
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (59 K)

[18] : Microwave circuit design using linear and nonlinear techniques, Pages
973-974
George D. Vendelin, Anthony M. Pavio and Ulrich L. Rohde
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (164 K)

[19] : Electronic component reliability fundamentals, modelling, evaluation, and
assurance, Page 975
Finn Jensen
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[20] : Pages : 975-976
Douglas M. Boniface
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (148 K)

[21] : Power hybrid circuit design and manufacture, Page 976
Haim Taraseiskey
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