Recherche sur l'auteur "Gérard COQUERY", juin 2004.

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Fiche : [99DIV132]

Titre : Recherche sur l'auteur Gérard COQUERY, juin 2004.

Cité dans : [DIV096]  Recherches bibliographiques diverses, janvier 2019.
Cité dans : [DATA146] LTN, Laboratoire des Technologies Nouvelles, INRETS, Arcueil, France.

Vers : Recherche du samedi 19 février 2000
Vers : Recherche du 17 juin 2000
Vers : Ajout de juin 2004

Recherche du samedi 19 février 2000

  [1] :  [DATA146] LTN, Laboratoire des Technologies Nouvelles, INRETS, Arcueil, France.
  [2] : [REVUE112] Les clubs CRIN, Réunion plèniere - Electronique de puissance, 3 février 1999, CNAM, PARIS.
  [3] :  [DIV137]  Recherche sur les mots clés : FIABILIT* ou RELIABILITY, octobre 1999.
  [4] :  [DIV130]  EPF'98, Electronique de Puissance du Futur, Belfort 1998.
  [5] : [REVUE037] REE N°09, Revue de l'Electricité et de l'Electronique, Octobre 1998.

Recherche du 17 juin 2000

Lien : private/GC_cpdx.htm - 6 dans COMPENDEX
Lien : private/GC_insp.htm - 12 dans INSPEC

  [1] : [99DIV132] Recherche sur l'auteur Gérard COQUERY, juin 2004.

  [2] :  [ART170]  A. JEUNESSE, P. LAUPRETE, J. MULLER, G. COQUERY, R. LALLEMAND, J. P. OUSTEN, Mise en oeuvre de module IGBT sur les onduleurs auxiliaires des motrices TGV, La revue 3E.I, N°24, mars 2001, pp. 41-51.
  [3] :  [ART171]  R. LALLEMAND, G. COQUERY, P. LAUPRETE, A. JEUNESSE, J. MULLER, Application des modules IGBT au traitement d'obsolescence des GTO dans les onduleurs auxiliaires du TGV A. Amélioration de la fiabilité, EPF'2000, 29 nov./1dec. 2000, Lille, France, pp. 157-
  [4] :  [PAP372]  G. COQUERY, S. CARUBELLI, J.P. OUSTEN, R. LALLEMAND, F. LECOQ, D. LHOTELLIER, V. DE VIRY, PH. DUPUY, Power module lifetime estimation from chip temperature direct measurement in an automotive traction inverter, ESREF'2001, pp. 1695-1700
  [5] : [SHEET533] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Durée de vie des modules IGBT pour la traction ferroviaire. Apport de la technologie AlSiC. Critères de défaillance, méthodologie, normalisation, EPF'2000, 4 pages.
  [6] : [SHEET516] G. COQUERY, R. LALLEMAND, Failure criteria for long term Accelerated Power Cycling Test linked to electrical turn off SOA on IGBT module. A 4000 hours test on 1200A-3300V module with AlSiC base plate, ESREF'2000, pp. 1665-1670.
  [7] : [SHEET119] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, M. PITON, H. BERG, K. SOMMER, Reliability improvement of the soldering thermal fatigue with AlSiC technology on traction high power IGBT modules, EPE'99, paper 904, 1999.
  [8] : [SHEET357] G. COQUERY, Les modules IGBT de forte puissance. Leur essor dans les applications de traction ferroviaire, REE no. 9, pp. 52-59, Octobre 1998, Paris.
  [9] : [SHEET122] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Reliability of high power IGBT modules. Testing on thermal fatigue effects due to traction cycles, Proc. of EPE Conf., Trondheim, September 1997, vol. 3, pp. 3.118-3.123.
 [10] : [SHEET360] A. HAMIDI, G. COQUERY, Contact temperature measurements on chip  surface for reliability investigations of high power IGBT modules in traction applications, 3rd Europ. Conf. On Electronic Packaging Technology, EUPAC'98, Nuremberg, juin 1998, 9 pages.
 [11] : [SHEET120] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, ESREF'98, Reliability of Power Devices, Copenhague, 9
 [12] : [SHEET140] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, P. VALES, J.M. DORKEL, Temperature measurements and thermal modeling of high power IGBT multichip modules for reliability investigations in traction applications, Microelectronics and Reliability, vol. 38, no. 6-8, J
 [13] : [SHEET356] A. HAMIDI, G. COQUERY, R. LALLEMAND, Effects of current density and chip temperature distribution on lifetime of high power IGBT modules in traction working conditions, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis,
 [14] : [SHEET389] A. HAMIDI, R. LALLEMMAND, G. COQUERY, P. CAROFF, Réalisation d'une alimentation isolée pour déclencheurs GTO montés en série, dans une application de très haute tension, EPF'96, pp. 205-210.
 [15] : [SHEET390] G. COQUERY, R. LALLEMAND, A. HAMIDI, D. WAGNER, Fiabilité des modules IGBT de fortes puissances - Influence de la fatigue thermique due aux cycles de traction - Essais accélérés de cyclage thermique en puissance, EPF'96, pp. 349-354.
 [16] : [SHEET121] G. COQUERY, R. LALLEMAND, D. WAGNER, P. GIBARD, Reliability of the 400 A IGBT modules for traction converters. Contribution on the power thermal fatigue influence on life expancy, EPE'95, vol. 1, pp. 60-65.
 [17] : [SHEET363] GTO chopper at 2000 Hz switching frequency for a DC current source 1000 A -1200V.
 [18] : [SHEET367] High-power components, the GTO thyristor.
 [19] : [SHEET365] Direct cooling for big GTOs. (power thyristors).
 [20] : [SHEET364] Increasing frequency using GTO in gate-assisted-turn-off mode.
 [21] : [SHEET365] Direct cooling for big GTOs. (power thyristors).
 [22] : [SHEET369] Influence of the impedance of the gate trigger on the maximum current turn-off capability of a GTO.
 [23] : [SHEET370] Magnetic levitation: first similarity tests at Vitry Laboratory.

Ajout de juin 2004

  [1] :  [PAP158]  -------

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