Article : [SHEET494]
Titre : N. SELIGER, P. HABAS, D. POGANY, E. GORNIK, Time-Resolved Analysis of Self-Heating in Power VDMOSFETs Using Backside Laserprobing, Solid State Electronics, Vol.41, No.9, pp.1285-1292 (1997).
Cité dans : [DATA204] fke, Institut für Festkörperelektronik (E362), 2000.Auteur : N. Seliger
Source : Solid State Electronics, Vol.41, No.9.
Pages : 1285 - 1292
Date : 1997
Stockage : Thierry LEQUEU, le 27 octobre 2000
Info : demande INIST, le 26 octobre 2000
Mise ŕ jour le lundi 10 avril 2023 ŕ 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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