Revue : [REVUE317]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 35, Issue 7, Pages 1017-1104 (June 1995.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 35, Issue 7,
Pages : 1017-1104 (June 1995)
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