Elsevier Science, "Microelectronics Journal", Vol. 31, Issue 8, August 2000.
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Revue : [REVUE142]
Titre : Elsevier Science, Microelectronics Journal, Vol. 31, Issue 8, August 2000.
Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Auteur : ContentsDirect from Elsevier Science
Journal: Microelectronics Journal (Incorporating Journal of Semicustom ICs)
ISSN : 0026-2692
Volume : 31
Issue : 8
Date : Aug-2000
Visit the journal at http://www.elsevier.nl/locate/jnlnr/02094
pp 629-634
A study on dielectric properties of a new polyimide film suitable for
interlayer dielectric material in microelectronics applications
A. Kuntman, H. Kuntman
pp 635-639
Zinc diffusion process investigation of InP-based test structures for
high-speed avalanche photodiode fabrication
I. Yun, K.-S. Hyun
pp 641-646
A study on the poly-Si TFT and novel pixel structure for low flicker
K.M. Lim, H.C. Kang, M.Y. Sung
pp 647-651
Improved bias-thermal-stress method for the insulator charge
measurement of BN/InP MIS structures
A. Koukab, A. Bath, P. Thevenin
pp 653-661
Effects of rapid thermal annealing in vacuum on electrical properties
of thin Ta"2O"5-Si structures
D. Spassov, E. Atanassova, G. Beshkov
pp 663-666
Oxide field enhancement corrected time dependent dielectric breakdown
of polyoxides
V.K. Gueorguiev, T.E. Ivanov, C.A. Dimitriadis, S.K. Andreev, L.I.
Popova
pp 667-676
A simulation study on the effect of channel thickness on the
characteristics of
Ga"0"."5"2In"0"."4"8P/In"0"."2Ga"0"."8As/Ga"0"."5"2In"0"."4"8P
DH-pHEMT
S.F. Yoon, A.H.T. Kam, H.Q. Zheng, B.P. Gay
pp 677-683
Monitoring photoresist glass transition temperature versus processing
parameters via NMR broad band spectroscopy
D.V. Nicolau, C. Bercu
pp 685-688
Surface field distribution and breakdown voltage of RESURF LDMOSFETs
S.-Y. Han, H.-W. Kim, S.-K. Chung
pp 689-699
Using a sigma-delta modulator as a test vehicle for embedded
mixed-signal test
J. Raczkowycz, P. Mather, S. Saine
pp 701-709
Electrical modeling of the chip scale ball grid array package at
radio frequencies
M.F. Caggiano, E. Barkley, M. Sun, J.T. Kleban
pp 711
Advanced electromagnetic analysis of passive and active planar
structures - T. Rozzi and M. Farina; IEE publications, UK, 1999, pp.
264, @$45.00, casebound, ISBN 0-852-96763-2
A. Saidane
pp 712
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan - A Guide to the IEEE 1149.4
Test Standard; A. Osseiran (Ed.); Kluwer Academic Publishers,
Dordrecht, 1999, 155 pages, hardcover, ISBN 0-792-38686-8, @$73
A. Saidane
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