Article : [ART441]

Titre : G. COQUERY, G. LEFRANC, T. LICHT, R. LALLEMAND, N. SELIGER AND H. BERG, High temperature reliability on automotive power modules verified by power cycling tests up to 150°C, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and, pp. .

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

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Source : Microelectronics Reliability
Volume : 43
Issues : 9-11
Date : 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and
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