T. DOLL, R. HERZER, J. LEHMANN, M. NETZEL, S. PAWEL, "Method for Electrical Detection of End-of-life Failures in Power Semiconductors", EPE'2003, September 2003, Toulouse, France.
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Fiche : [ART427]

Titre : T. DOLL, R. HERZER, J. LEHMANN, M. NETZEL, S. PAWEL, Method for Electrical Detection of End-of-life Failures in Power Semiconductors, EPE'2003, September 2003, Toulouse, France.

Cité dans : [DIV213]  EPE'2003, European Conference on Power Electronics and Applications, Toulouse, France, du 2 au 4 septembre 2003.
Cité dans : [CONF004] EPE, European Conference on Power Electronics and Applications, juillet 2012.
Auteur : DOLL Theodor
Auteur : HERZER Reinhard
Auteur : LEHMANN Jan
Auteur : NETZEL Mario
Auteur : PAWEL Sascha

Date : du 2 au 4 septembre 2003
Congrés : 10th European Conference on Power Electronics and Applications
Lien : private/2003PP0991.pdf

Abstract :

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 47 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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