Fiche : [99DIV125]

Titre : Recherche sur l'auteur Pierre ALOISI, février 2000.

Cité dans : [DIV096]  Recherches bibliographiques diverses, janvier 2019.

Info. : Motorola
Lien : private/ALOISI1.htm - 16 Ko, 14 answers found in the COMPENDEX database.
Lien : private/ALOISI2.htm - 27 Ko, 39 answers found in the INSPEC database.

  [1] :  [PAP005]  P. ALOISI, Z. JOHN SHHEN, S.P. ROBB, A new IGBT with a monolithic self protection circuits
  [2] : [SHEET123] P. ALOISI, La fatigue thermique, Electronique de Puissance, no. 24, 1987, pp. 31-39.
  [3] : [SHEET127] P. ALOISI, Thermal fatigue in power semiconductor, PCI'87.
  [4] : [SHEET128] P. ALOISI, Evolution of Power Transistors, 1986.
  [5] : [SHEET168] P. ALOISI, Failure diagnosis in medium power semiconductor, EPE'91, Firenze, vol. 3, pp. 117-119.
  [6] : [SHEET395] P. ALOISI, Les boitiers des semiconducteurs de puissance : quel avenir ?, Les Clubs CRIN, La lettre Electronique de Puissance N°7, pp. 23-27, juin 1998.

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