auteur abdallah (ben m'hamed) titre (fr.) contribution a l'etude de fiabilite des composants: developpement d'un generateur de bases de donnees de fiabilite et maintenabilite operationnelles title (ang.) a contribution to component reliability: a date base generator for reliability and maintainability field data acquisition and treatment responsable guyonnet (jean francois) domaine sciences et techniques : electronique mots clés fiabilite des composants/fiabilite operationnelle/bases de donnees/maintenabilite/modeles de defaillances/recueil des donnees/analyse statistique date 1990 lieu compiegne type th. doct. références 52 ref. n ° identification 90compd236 résumé (fr.) cette these s'inscrit dans le cadre de la tendance actuelle des industriels a developper des outils d'aide a la gestion de la surete de fonctionnement de leurs installations. elle presente les objectifs et les caracteristiques d'un generateur de bases de donnees de fiabilite et de maintenabilite operationnelles baptise gbdos, concu et developpe en collaboration avec l'industriel. le chapitre 1 replace la realisation dans le contexte theorique des etudes de surete, afin de mieux identifier les problemes lies aux difficultes de modelisation lors de la construction de bases de donnees de fiabilite et maintenabilite operationnelles. le chapitre 2 presente l'identification des donnees de fiabilite et maintenabilite, ainsi que leurs diverses sources. apres un rappel des principales lois de probabilite, le chapitre 3 presente les methodes de recherche d'un modele et d'obtention des donnees et conclue de l'interet d'une analyse exploratoire des donnees. a partir de l'experience des bases de donnees de fiabilite operationnelle developpees en europe, le chapitre 4 fait l'analyse critique des deux des trois phases essentielles que sont l'acquisition et l'exploitation des donnees. le chapitre 5 presente le generateur qui a servi a elaborer une base de donnees de fiabilite et maintenabilite operationnelle pour l'acquisition, le stockage et l'exploitation des historiques relatifs aux equipements techniques d'une chaufferie urbaine auteur arnould (joel) titre (fr.) contribution a l'etude de la fiabilite de photocoupleurs et de transistors de puissance vhf utilises en radio-diffusion titre (ang.) contribution to reliability evaluation of optocouplers and vhf power transistors used in broadcasting responsable lepley (bernard) domaine sciences et techniques : electronique mots clés fiabilite des composants/photocoupleurs/transistor/mecanisme de degradation/essai de vieillissement/caracterisation electrique date 1990 lieu metz type th. doct. références 31 ref. n° identification 90metz0024 résumé (fr.) ce travail de these consistait a etudier, dans le cadre de la creation d'une cellule d'expertise en fiabilite de composants, certains photocouplers et transistors de puissance vhf utilises en radiodiffusion. il peut etre decompose en deux parties: mise au point d'un banc de mesures automatique pilote par micro-ordinateur permettant de caracteriser de facon systematique differents types de composant. mise en uvre d'essais de vieillissement sur des photocoupleurs et des transistors vhf soumis a certaines contraintes electriques ou thermiques et analyse des resultats. en ce qui concerne les photocoupleurs, des phenomenes importants de derive du rapport de transfert en courant ont ete mis en evidence, ils trouvent sans doute leur origine dans la degradation du milieu de couplage optique. (opacification de la resine, deformation de la cavite, etc.) les essais de temperature menes sur les transistors de puissance vhf mettent en evidence, quant a eux, des phenomenes successifs de degradation puis de restauration totale ou partielle des caracteristiques statiques qui semblent correspondre a une phase de stabilisation des materiaux au recuit auteur okeke (martin) titre (fr.) influence des defauts electroniquement actifs sur les caracteristiques et la fiabilite des structures mos titre (ang.) effects of electronically active defects on the properties and reliability of mos structures sciences et techniques : electronique mots clés structure mos/capacite mos/defaut cristallin/caracteristique capacite tension/piegeage porteur charge/caracteristique courant tension/impurete/fiabilite/derive electron/jonction p n/diode barriere schottky/instabilite/vieillissement/silicium/silicium oxyde/mobilite porteur charge date 1981 lieu insa lyon type docteur ingenieur résumé (fr.) rappel sur les elements de la physique des structures mos (ideales et reelles). caracterisation des centres electriquement actifs dans les structures mos: spectroscopie par analyse des regimes transitoires; mesure de la capacite dynamique et de la conductance. influence des pieges d'interface et volume sur la reponse capacitive hors d'equilibre des structures mos. phenomenes de derives caracteristiques des composants mos résumé (ang.) reminder of basic elements of the physics of mos structures (idela and real). characterization of electrically active centres in mos structures: spectroscopy by analysis of transient operating conditions; measurement of dynamic capacity and conductance. influence of interface traps and volume on the unbalanced capacitive response of mos structures. drift phenomena characteristic of mos components