K. REINMUTH, "A method for non-destructive testing of bipolar transistors, IGBT's and MOSFET's", EPE Firenze 1991, pp. 0-142....0-147.

K. REINMUTH, "A method for non-destructive testing of bipolar transistors, IGBT's and MOSFET's", EPE Firenze 1991, pp. 0-142....0-147. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [SHEET285]

Titre : K. REINMUTH, A method for non-destructive testing of bipolar transistors, IGBT's and MOSFET's, EPE Firenze 1991, pp. 0-142....0-147.

Cité dans : [DIV132]  EPE'91 & EPE-MADEP'91, European Conference on POWER ELECTRONICS AND APPLICATIONS, Firenze, Italy, september 1991.
Cité dans :[SHEET155]

Auteur : Reinmuth K.

Lien : SHEET155.HTM#Bibliographie - référence [19]
Source : EPE Firenze EPE'91
Année : 1991
Volume : 0
Pages : 142 - 147
Stockage :

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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