C. Fürböck, N. Seliger, D. Pogany, M. Litzenberger, E. Gornik, M. Stecher, H. Gossner, W. Werner, "Backside Laserprober characterization of thermal effects during high current stress in Smart Power ESD protection devices", IEDM Tech. Digest, 1998, pp. 691
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Titre : C. Fürböck, N. Seliger, D. Pogany, M. Litzenberger, E. Gornik, M. Stecher, H. Gossner, W. Werner, Backside Laserprober characterization of thermal effects during high current stress in Smart Power ESD protection devices, IEDM Tech. Digest, 1998, pp. 691-694.

Cité dans : [CONF033] IEDM, IEEE International Electron Devices Meeting, juin 2002.
Cité dans :[SHEET462]
Auteur : Fürböck C
Auteur : Seliger N
Auteur : Pogany D
Auteur : Litzenberger M
Auteur : Gornik E
Auteur : Stecher M
Auteur : Gossner H
Auteur : Werner W

Source : IEDM Technical Digest
Date : 1998
Pages : 691 - 694
Lien : SHEET462.HTM#Bibliographie - référence [8].

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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