J.-M. PETER, "Equipment reliability improvement using high power transistors", International Conference on Reliability and maintainability, Paris, France, 1978.

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Article : [SHEET044]

Info : INSPEC Answer Number 43 - 13/01/2000

Titre : J.-M. PETER, Equipment reliability improvement using high power transistors, International Conference on Reliability and maintainability, Paris, France, 1978.

Cité dans : [DATA004] Recherche sur l'auteur Jean Marie PETER, janvier 2000.

Auteur : Peter, J.M. (Dept. Promotion Products, Thomson CSF, Aix-en-Provence, France)

Source : Colloque International sur la Fiabilite et la Maintenabilite
Source : (International Conference on Reliability and maintainability)
Lieu : Paris, France: Electronic Industries Association of France, 1978.
Pages : p.395-400 of xxxv+424 pp. 10 refs.
Conference : Paris, France, 19-23 June 1978
Info : Country of Publication : France
Language : French

Abstract :
Most of the failures which occur in high power transistors are
related to the conditions of their use. These failures occur when
absolute ratings are accidentally exceeded. Suggestions are made for
the choice of safety margins.

Accession_Number : 1979:1314424

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