Elsevier Science, "Microelectronics Reliability, Volume 35, Issue 12, Pages 1451-1520 (December 1995.
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Revue : [REVUE311]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 35, Issue 12, Pages 1451-1520 (December 1995.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Auteur : Elsevier Science

Volume : 35, Issue 12,
Pages : 1451-1520 (December 1995)
Export Citations
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E. J. Vanderperre
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Y. Kitaura, K. Ishida, T. Mizoguchi and N. UchitomiT. MatsunagaM.
MochizukiR. Nii
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