Revue : [REVUE239]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issue 9, Pages 1311-1421 (September 1999.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 39
Issue : 9
Pages : 1311 - 1421
Date : September 1999

[1] : On the time-dependent degradation of LDD n-MOSFETs under hot-carrier
stress, Pages 1311-1322
D. S. Ang and C. H. Ling
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (278 K)

[2] : Thermally stimulated current in SiO2, Pages 1323-1336
D. M. Fleetwood, R. A. ReberJr , L. C. Riewe and P. S. Winokur
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (249 K)

[3] : A two-layer high density printed circuit board and its reliability, Pages
1337-1341
S. Zhang, J. De Baets and A. Van Calster
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (175 K)

[4] : Thermal management of power electronics modules packaged by a
stacked-plate technique, Pages 1343-1349
Shatil Haque, William A. Stinnett, Douglas J. Nelson and Guo-Quan Lu
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (477 K)

[5] : Board level reliability assessment of chip scale packages, Pages 1351-1356
Z. P. Wang, Y. M. Tan and K. M. Chua
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (599 K)

[6] : 1/f noise due to temperature fluctuations in heat conduction in bipolar
transistors, Pages 1357-1364
L. Forbes, M. S. Choi and W. Cao
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (211 K)

[7] : Characterization of chip scale packaging materials, Pages 1365-1377
Masazumi Amagai
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (330 K)

[8] : Functional AlGaAs/GaAs heterostructure-emitter bipolar transistor with a
pseudomorphic InGaAs/GaAs quantum-well base, Pages 1379-1387
Jung-Hui Tsai
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (171 K)

[9] : Single chip bumping and reliability for flip chip processes, Pages
1389-1397
M. Klein, H. Oppermann, R. Kalicki, R. Aschenbrenner and H. Reichl
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (410 K)

[10] : Transition of MCM-C applications to MCM-L using rigid flex substrates,
Pages : 1399-1406
James Keating
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (228 K)

[11] : Irregular effect of chloride impurities on migration failure reliability:
contradictions or understandable?, Pages 1407-1411
Gábor Harsányi
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (128 K)

[12] : Maximum likelihood predictive densities for the inverse Gaussian
distribution with applications to reliability and lifetime predictions,
Pages : 1413-1421
Zhenlin Yang
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (189 K)

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 56 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 :

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.