Elvesier Science, "Reliability Engineering & System Safety", Vol. 68, No. 3, June 2000.
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Revue : [REVUE161]

Titre : Elvesier Science, Reliability Engineering & System Safety, Vol. 68, No. 3, June 2000.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Editor : G.E. Apostolakis

Site : http://www.elsevier.nl/locate/contentsdirect
Stockage : bibliothèque LMP
Date : june 2000
ISSN : 0951-8320
Pages : 187 - 278


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