K. NASSIM, L. JOANNES, A. CORNET, S. DILHAIRE, E. SCHAUB, W. CLAEYS, "Thermomechanical deformation imaging of power devices by Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI)", Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1341-13
Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [PAP403]

Titre : K. NASSIM, L. JOANNES, A. CORNET, S. DILHAIRE, E. SCHAUB, W. CLAEYS, Thermomechanical deformation imaging of power devices by Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI), Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1341-1345.

Cité dans :[REVUE253] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, Pages 851-1366, 8 June 1998.
Cité dans : [DATA233] ESREF'98, Proceedings of the 9th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 5-9 October 1998.
Cité dans :[ART273]
Auteur : K. Nassim
Auteur : L. Joannes
Auteur : A. Cornet
Auteur : S. Dilhaire
Auteur : E. Schaub
Auteur : W. Claeys

Lien : ART273.HTM#Bibliographie - référence [1].
Lien : private/NASSIM.pdf - 5 pages, 425 Ko.
Source : Microelectronics Reliability
Pages : 1341 - 1345
Volume : 38
Issues : 6-8
Date : 8 June 1998


Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 : TOP

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.