Article : [ART440]

Titre : W. KANERT, H. DETTMER, B. PLIKAT AND N. SELIGER, Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and, pp. .

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Cité dans :[REVUE435] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, Pages 1351-1968, September-November 2003.

Vers : Bibliographie
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Source : Microelectronics Reliability
Volume : 43
Issues : 9-11
Date : 14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and
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Bibliographie

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