Article : [ART439]

Titre : A. GUEDON, E. WOIRGARD, C. ZARDINI, G. SIMON, Methodology to evaluate the correspondence between real conditions and accelerated tests of a thyristor system used in a power plant, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, September-November 2003, pp. 1853-1858.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Cité dans :[REVUE435] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, Pages 1351-1968, September-November 2003.
Cité dans : [DIV289]  Recherche sur l'auteur Christian ZARDINI, juillet 2004.
Cité dans : [DIV441]  Recherche sur l'auteur Eric WOIRGARD, juillet 2004.

Vers : Bibliographie
Adresse : (a) Laboratoire IXL CNRS UMR 5818 FR 2648, ENSEIRB, Université Bordeaux 1, 351 cours de la Libération, 33405, Talence Cedex, France
Adresse : (b) EDF R&D site les Renardières Ecuelles 77818 Moret sur, Loing Cedex, France
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 43
Issues : 9-11
Date : September-November 2003
Pages : 1853 - 1858
DOI :
PII :
Lien : private/GUEDON1.pdf - 1407 Ko, 6 pages.
Switches :
Puissance :
Logiciel :
Stockage :

Abstract :

Bibliographie

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