M. Catelani, R. Nicoletti, "A Custom - designed automatic measurement system for acquisition and management of reliability data", Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1381 - 1384
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Titre : M. Catelani, R. Nicoletti, A Custom - designed automatic measurement system for acquisition and management of reliability data, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1381 - 1384

Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002.
Cité dans : [DIV312]  ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.
Auteur : M. Catelani
Auteur : R. Nicoletti

Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-15
Pages : 1381 - 1384
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (425 K)


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