F. RICHARDEAU, P. BAUDESSON, T. MEYNARD, C. TURPIN, "Fail-safe capability of a high voltage IGBT inverter source", Eur. Phys. J. AP 15, 189-198 (2001).
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Article : [ART174]

Titre : F. RICHARDEAU, P. BAUDESSON, T. MEYNARD, C. TURPIN, Fail-safe capability of a high voltage IGBT inverter source, Eur. Phys. J. AP 15, 189-198 (2001).

Cité dans : [DIV225]  Les revues The European Physical Journal Applied Physics et Journal de Physique III, mars 2002.
Cité dans : [DIV245]  Recherche sur l'auteur Fredéric RICHARDEAU, mars 2002.
Cité dans : [DIV189]  Recherche sur l'auteur Thierry MEYNARD, mai 2003.
Auteur : F. Richardeau
Auteur : P. Baudesson
Auteur : T. Meynard
Auteur : C. Turpin

Adresse : Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique Industrielle, ENSEEIHT/INP - Toulouse (UMR CNRS 5828) , BP 7122, 2 rue Camichel, 31071 Toulouse Cedex 7, France
Lien : mailto:richard@leei.enseeiht.fr
Source : Eur. Phys. J. AP 15, 189-198 (2001)
Info : Received: 20 December 2000 / Accepted: 22 May 2001
Lien : EPJAP/2001/09/ap0215/ap0215.html

Abstract :
The aim of this paper is to explain the intrinsic fail-safe capability of a
high-voltage IGBT inverter source. The inverter is an imbricated cells structure
which provides redundancy. The major failures can be either a wrong gate voltage
(malfunctioning of the driver board, auxiliary power supply failure, dv/dt
disturbance) or an intrinsic IGBT failure (over-voltage/avalanche stress,
temperature overshoot). The IGBT failures are studied and show that no opening
of the bondings can appear and consequently no risk of explosion. Owing to the
imbricated cells structure, an IGBT failure can be withstand a few switching
periods, with nevertheless non-optimized output waveforms. The design and the
lab-test of a sensor able to perform monitoring and failure diagnosis are also
presented. This real-time diagnosis allows either a safety stop or a remedial
control strategy based on the reconfiguration of the control signals. The
real-time reconfiguration allows to decrease internal stresses and to optimize
the shape of the output voltage. In this case, a fail-safe operating may be
gained for high power applications.

PACS :
84.30.Jc - Power electronics; power supply circuits.
84.70.+p - High-current and high-voltage technology: power systems; power transmission lines and cables (including superconducting cables).


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